SIFT özelliği algılama algoritması icat ve British Columbia Üniversitesi'nden David Lowe tarafından yayınlanmıştır.
Algoritma içinde anahtar özellik noktalarını belirlemek için yeteneği sağlar
keyfi görüntüler. Bundan başka, ekstreler her bir nokta için son derece belirgin bir bilgi ve görüntü modifikasyonlar değişmeyen noktası karakterize sağlar. Bu ölçekleme, döndürme için / parlaklık değişiklikleri kontrast değişmeyen ve dönüşümler diğer tür kısmen değişmez olduğunu. Algoritma esnek görüntü eşleştirme, nesne tanımlama ve diğer bilgisayar görme ile ilgili algoritmalar için giriş verileri oluşturmak için de kullanılabilir.
Otomatik panorama oluşturulması için SIFT algoritmasının kullanılması onların kağıt "Tanınması Panoramalar" Matthew Brown ve David Lowe tarafından geliştirilmiştir.
Bu Sürümdeki Yenilikler:
Yorum Bulunamadı